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TX 2000 全反射X荧光光谱仪
仪器简介 TX2000 原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线
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X荧光合金分析仪 EDX2000H
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天瑞仪器X荧光合金分析仪EDX2000H
产品说明、技术参数及配置完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析应用新一代的高压电源和X光管,提供了产品的可靠性利用新X光管提高仪器的测试效率,并优化产品性能和提高安全防护等级不添加任何硬件
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天瑞EDX 2000A 能量色散X荧光光谱仪
产品说明、技术参数及配置 EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非
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天瑞仪器能量色散X荧光光谱仪EDX 2000A
产品说明、技术参数及配置 EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非
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ARL Optim’X波长色散X射线荧光光谱仪
Scientific AROPTIM'X 硫分析仪是一款紧凑、快速、可靠的波长色散荧光光谱仪,并配置了专用固定分析通道。Thermo Scientific AROPTIM'X 水泥分析仪可对
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ARL Optim’X 波长色散X射线荧光光谱仪
Scientific ARL OPTIM'X 分析仪是一款紧凑、快速、可靠的波长色散荧光光谱仪,并配置了专用固定分析通道。 Thermo Scientific ARL OPTIM'X 水泥分析仪可对
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ARL QUANT'X 能量色散X荧光光谱仪
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X荧光镀层测厚仪
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X荧光光谱、XRF
X-123——封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µm(探测器有效面积/厚度)的探测器
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